
高低溫試驗箱控制的是箱體內(nèi)的空氣溫度。對于發(fā)熱產(chǎn)品,其內(nèi)部核心器件(如芯片、功率管)的溫度等于環(huán)境溫度與溫升之和。
測試意圖:想要驗證產(chǎn)品在 -20℃ 的環(huán)境下能否啟動和工作。
實際遭遇:產(chǎn)品自身發(fā)熱可能使其核心溫度維持在 +20℃ 甚至更高。
影響:這會導(dǎo)致本應(yīng)暴露于嚴寒中的元器件(尤其是電解電容、機械硬盤、潤滑油、塑料件等)實際上處于“溫暖"狀態(tài),無法驗證低溫應(yīng)力下的真實性能。如果產(chǎn)品通過了測試,并不能代表它真的能在嚴寒環(huán)境中穩(wěn)定運行。
低溫試驗通常要求“溫度穩(wěn)定",即所有部件的溫度達到設(shè)定值并保持恒定。
如果發(fā)熱產(chǎn)品在未通電時能降到-40℃,但通電后熱量迅速散發(fā),箱體的制冷系統(tǒng)可能來不及帶走熱量。
結(jié)果:箱體顯示-40℃,但產(chǎn)品表面或內(nèi)部關(guān)鍵點溫度可能比設(shè)定值高出幾十度。若測試標(biāo)準(zhǔn)要求“在低溫下帶載運行XX小時",此時實際是“在帶載產(chǎn)生的微環(huán)境中運行",而非在設(shè)定低溫下運行。
很多標(biāo)準(zhǔn)要求進行“低溫啟動"測試。
如果產(chǎn)品在低溫下放置足夠長時間后,在通電瞬間,雖然冷態(tài)啟動了,但由于自身發(fā)熱,后續(xù)持續(xù)工作時的溫度上升掩蓋了低溫對長期穩(wěn)定性的影響。
風(fēng)險:對于某些對溫度敏感的故障模式(如低溫導(dǎo)致潤滑油凝固、電池內(nèi)阻驟增、電容ESR增大),可能在啟動后幾分鐘內(nèi)因自發(fā)熱而“掩蓋"了故障,但實際上低溫環(huán)境依然存在,一旦產(chǎn)品進入休眠模式(功耗降低),溫度回落,可能出現(xiàn)二次啟動失敗或間歇性故障。
高低溫試驗箱在做低溫測試時,通常伴隨著濕度控制或從低溫升高溫的循環(huán)。
如果產(chǎn)品自身發(fā)熱,表面溫度高于空氣溫度,雖然能暫時防止結(jié)霜,但破壞了測試環(huán)境的一致性。
在溫度循環(huán)中,發(fā)熱會導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部空氣與外部環(huán)境產(chǎn)生壓力差,可能將濕氣吸入產(chǎn)品內(nèi)部,在斷電冷卻后形成嚴重凝露,導(dǎo)致短路。這種“熱泵"效應(yīng)在發(fā)熱產(chǎn)品上尤為明顯。
很多測試標(biāo)準(zhǔn)(如GB/T 2423, MIL-STD-810等)在低溫測試中有明確規(guī)定:對于散熱試件,試驗箱應(yīng)提供足夠的空氣流速和制冷量,以抵消試件發(fā)熱帶來的影響,確保試驗箱內(nèi)的空氣溫度保持在規(guī)定范圍內(nèi)。
如果試驗箱制冷量不足或風(fēng)速不夠,產(chǎn)品周圍的空氣會形成一個“熱邊界層",導(dǎo)致實際測試條件偏離標(biāo)準(zhǔn)要求。
為了避免上述影響,在進行此類測試時,通常需要采取以下措施:
區(qū)分“散熱"與“非散熱"試件:
首先應(yīng)明確測試依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)中對發(fā)熱產(chǎn)品的定義。對于大功率發(fā)熱產(chǎn)品,通常要求在“無風(fēng)"或“特定風(fēng)速"條件下進行測試,但同時必須保證溫度均勻性。這需要平衡。
使用“低溫啟動"與“溫度穩(wěn)定"分開的策略:
溫度穩(wěn)定階段:產(chǎn)品不工作。待產(chǎn)品核心溫度(通過布設(shè)熱電偶監(jiān)測)降至設(shè)定低溫并保持足夠時間(如2小時)后,再進行通電。
功能測試階段:允許產(chǎn)品發(fā)熱,但需監(jiān)控。如果產(chǎn)品發(fā)熱導(dǎo)致環(huán)境溫度超出允差范圍(例如標(biāo)準(zhǔn)要求±2℃或±3℃),則視為測試條件失效。
增加箱體制冷量與風(fēng)速:
試驗箱的風(fēng)速需要足夠大,以帶走產(chǎn)品表面散發(fā)的熱量。如果產(chǎn)品發(fā)熱量接近箱體的制冷量極限,測試將無法達到設(shè)定溫度(箱體會因熱負載過大而報警或無法降溫)。
采用“極限溫度監(jiān)控"而非僅看箱體顯示:
必須將熱電偶貼在產(chǎn)品最敏感的關(guān)鍵部件上(如功率管散熱片、電解電容表面、電機線圈),并以這些點的溫度作為判定依據(jù),而非箱體的顯示溫度。
如果測試標(biāo)準(zhǔn)允許,可考慮“間歇工作"模式:
對于某些發(fā)熱量極大、遠超其使用環(huán)境的設(shè)備,如果測試目的是驗證低溫下的機械動作而非滿載熱平衡,可采用“短時通電、長時冷卻"的循環(huán)模式,防止自加熱累積。